専門家によるAFM&SPM解析ソフトウェア

• どのような表面上での、様々な形状およびサイズの粒子、細孔、微粒子その他の画像特性を検出し定量化します。
• アプリケーション指向のセグメンテーション手法のメリット
• 粒子を特徴に基づいてグループに分類
• 統計とグラフィックの生成(散乱プロット、箱ひげ図、管理図、ヒストグラムなど)

詳細については、こちらの記事をご覧ください。

• ノイズ除去、標準化、およびキャリブレーション ツールを使用して、応力曲線と自動前処理を可視化
• 接着イベントを自動的に検出し、パラメータを計算
• ヤング率、エネルギー、剛性、などを計算
• ワームライク チェーン(WLC)モデルの生成
• 一連の力曲線を解析し、任意のパラメータに関する統計(管理図、散乱プロット、ヒストグラム)を生成
• 応力容量データの可視化とインタラクティブなパラメータマップの表示
• 応力容量をフィルタリングし、スライスまたは個々の応力曲線をインタラクティブに抜き出す

• SPMイメージを別の装置（SEM、3D光学顕微鏡、共焦点顕微鏡等）のデータと統合します、相関解析を実施。
• 原子間力顕微鏡(AFM)で取得した高解像度トポグラフィー画像を、より広い視野(SEM、蛍光、光学画像)の顕微鏡で取得したRGB画像に重ねます。
• 化学組成 (分光法) データと共局在化

左: SEM画像とAFMトポグラフィーのコローカライゼーション。

走査型プローブ顕微鏡は、通常、複数の相互作用を同時に画像化します。 SPMは、様々なモードを通じて、サンプル上の同じ場所に複数のデータセットを生成します(例えば、トポグラフィー、導電率、剛性など)。

• 単純なトポグラフィー画像を扱う場合と同じくらい簡単かつ効率的にマルチチャネル画像を処理
• ボタンに触るだけで、異なる層を3Dで可視化。
• 単一層またはすべての層を解析。
• 多層断面を抜き出し。
• 異なるチャネル間の相関関係を解析

詳細情報: digitalsurf.revelateur.fr/news/multi-channel-data-how-to-study-correlations/

• ノーコード自動化ツールで解析プロセスを合理化し、高効率化
• 解析シーケンスを自動で保存、再適用することで、大量データの解析を効率的に実行
• 進捗状況を保存し、シームレスに作業を再開
• 強力な機能を備えた内蔵統計ツールで分析を強化

異常なスキャンラインと測定アーティファクトの補正

• ラインごとの自動修正とその後のレベリング、表面の上の構造(突出)と表面の下の構造(孔)は無視されます。
• 補間による個別ライン補正
• レタッチして孤立したアーティファクトを削除します。
• 閾値など

標準化

• 解析の前に、表面を水平にしたり、水平軸または垂直軸で反転させたり、1度ずつ回転させたりすることができます。
• 独立した解析のために表面上のゾーンを抜き出すこともできます。

ノイズ除去フィルター

• 構成可能なマトリックスを備えた空間フィルター
• FFTプロットエディタ

• 規則的なパターンを持つ画像では、単位セルを検出して格子を決定し、その寸法を定量化します。
• スケーリングと線形性の誤差を定量化します。
• これらの値を修正係数として使用して、他の表面の線形性とスケーリングを修正します。

測定面への先端の効果の影響を補正します。

• 先端の形状のシミュレート
• Villarrubiaの「ブラインド再構成」法を用いて先端形状を推定
• 先端形状を保存し、他の表面のデコンボリューションに再利用

• 堅牢なガウスフィルターやスプラインフィルターなど、最新のISO 16610高度なフィルター処理技術を使用して、表面の粗さとうねりのコンポーネントを分離します。
• ISOパラメータにアクセス: ISO 25178高度(Sa、Sq、Ssk、Sku、Sz など)および機能(Smr、Smc、Sxp)パラメーター、ISO 4287プライマリーおよび粗さパラメーター(Ra、Rq、Rsk、Rmr、Rdc、Rdq、RPc、など)など。