すべての機器データに対応する1つの解析ソフトウェアソリューション

複数の機器からのデータをまとめる

• 単一のソフトウェアプログラムを使用して解析をスピードアップ
• データから価値ある結果を生成していることを確認してください

他のMountains®ユーザー(世界中の22,000以上のコミュニティ)が作成したライブ文書と解析の読み込み

ほぼすべてのタイプの表面および画像解析機器からのデータを処理（50以上の機器メーカーがMountains®ベースのソフトウェアパッケージを機器に付属）

処理データ:

• 2Dおよび3Dプロフィロメーター
• モノクロ画像やカラー画像を生成する光学顕微鏡やその他のイメージングシステム。
• 走査型電子顕微鏡(SEM)
• 原子間力顕微鏡(AFM)を含む走査型プローブ顕微鏡(SPM)
• 分光技術(ラマン、TERS、IR、nanoIR、蛍光、フォトルミネッセンス、カソードルミネッセンス、EDX/EDS、XRFなど)

以下をカバーする数百のファイル形式の読み込み

• 断面
• 表面
• 3D(断層撮影)および2D画像
• マルチチャネルファイル
• フォースカーブ
• 超スペクトル画像
• マルチチャネルキューブなど

• 相関解析を素早く簡単に実行
• MountainsLab®のコローカライゼーション機能を使って、様々な機器からの画像とその他のデータを重ね合わせて結合
• 画像の機能を強調するための画像補正、混色、透明度などの高度なレンダリングオプションにアクセス

• Digital Surfの30年以上の表面測定の経験を活用できる
• アプリケーション固有のツールを使って表面性状を解析
• 断面、表面、一連のデータのための高度なフィルタ、パラメータ、その他のツールにアクセス

• どのような表面上での、またどのような機器からでも、様々な形状およびサイズの粒子、細孔、微粒子その他の特性を検出し定量化
• 繊維や隙間を正確に測定（繊維直径、繊維配向など）
• お使いの機器タイプ(プロファイラー、SEM – SE、SEM – BSE、マルチチャネルデータなど)専用のアプリケーション指向のセグメンテーション手法のメリット
• 粒子を特徴に基づいてグループに分類
• 統計とグラフィックの生成(散乱プロット、箱ひげ図、管理図、ヒストグラムなど)

• 静的または動的データ母集団の統計を生成
• 統計レポートの作成
• MountainsLab®にデータを自動的に検出および更新
• データをグラフ表示

• 断面の寸法を自動生成
• 断面をDXF形式またはユーザー定義の名義形式のCADデータと比較
• 公差ツールを使用して合格/不合格基準を適用
• 形状偏差をグラフィカルに表示
• 品質管理システム用にExcel互換形式で結果をエクスポート
• 可変寸法の断面の処理
• ゴシックアーチの解析の実行

• 原子間力顕微鏡で得られた応力曲線と応力容量の解析
• 応力曲線の自動前処理とノイズ除去、ベースラインの標準化、カンチレバー感度のキャリブレーション
• 応力曲線の可視化: 単一のアトラクトおよび/またはリトラクト曲線と一連の曲線を表示し、軸単位を選択
• 手動微調整により、接着力接着イベントを検出し、パラメータを計算
• タンパク質のアンフォールディングにワームライクチェーン(WLC)モデルを適用
• ヤング率マップの生成
• 一連の応力曲線の統計を作成

• Raman、カソードルミネッセンス、フォトルミネッセンス技術からのスペクトルおよびスペクトルマップの可視化と解析
• ハイパースペクトル画像の可視化と解析
• 分光法からのデータを、他の機器(AFM、SEMなど)からのデータおよび画像(可能な場合はトポグラフィーデータを含む)と関連付ける
• 構成データのマルチチャネルキューブ(「化学」キューブ)の読み込み

SEM画像に色を付けると、そこに含まれる情報の可視化と解釈が容易になるだけでなく、 公開する際の見た目の美しさも向上します。

• マウスを1回クリックするだけで、画像内のオブジェクトに色を付けることができます。
• 対象を自動的に検出します。 レイヤーの作成や透明性レベルの調整が不要です。 MountainsSEM®が作業を行います。
• 画像処理と解析に同じソフトウェアを使用します。 Mountains®で画像に色を付けてオブジェクトを見やすくしたら、様々な種類の解析を実行するための包括的なツールにアクセスできます。 3D再構成、表面形状解析、表面粗さ測定

• ステレオ写真測量再構成アルゴリズムを使用して、サンプルの2つの連続する傾斜スキャンから高度を再構成します
• シェーディングアルゴリズムの形状を使用して、4象限反射電子検出器による4画像スキャンから高度を再構成します。
• 単一画像から大まかな3Dレンダリングを取得します
• 粗さ解析および3D次元解析用のツールにアクセス

• それぞれの機器タイプ別（2Dおよび3D形状測定装置とAFM、STM、SEM、超スペクトル）に適応したチュートリアルと、すぐに使えるテンプレートへのアクセス
• 新人の同僚への、表面と画像の解析ルーチンの指導がイラストおよびコメント付きテンプレートを使って簡単にできます。