「SEMトポグラフィ」は、走査電子顕微鏡データ解析とプロファイラーまたはSPM専用のその他のMountains®ソフトウェア製品との間のギャップを埋めます。
⇒ 超高速3D再構築 – ステレオ画像ペア、アナグリフ、または4象限検出器によって生成された画像からサンプルの3Dモデルを再構築します。
⇒ コンピューター支援の画像着色 – 半自動オブジェクトセグメンテーションのおかげで数回クリックするだけでSEM画像を着色し、出版物やポスター用に高品質のカラー画像を作成できます。
⇒ 単一のSEM画像から3Dレンダリングを生成し、画像の視覚的解明度を改善します。
⇒ 高品質の画像 – 画像補正ツールとノイズ除去フィルタを使用して画質を改善します。
⇒ 距離と角度の測定 – 画像平面内のオブジェクトを測定します。
⇒ アナグリフ – 立体メガネで見るために3Dトポグラフィからアナグリフを生成します。
⇒ 再構築された3D表面から – の断面（断面）抽出。
⇒ XY平面から抽出された平面輪郭と垂直輪郭（XZプロファイル）の輪郭次元解析。
⇒ 表面下解析 – マイクロエレクトロニクス、マイクロメカニカル、およびその他のコンポーネントの表面の平面を抽出して水平にします。
⇒ 相関解析のための共局在化 – 異なるSEM画像（たとえば、二次電子画像と後方散乱電子画像）の共局在化 – 他の顕微鏡またはプロフィロメータによって得られた表面トポグラフィとSEM画像の共局在化* – 3Dのオーバーレイ画像表面トポグラフィ*。 （*これらの機能の可用性は、ご使用のソフトウェアでサポートされている機器ファイル形式によって異なります。）
⇒MATLAB™互換性 – MATLAB™スクリプトをロードまたは記述して実行し、フィルタリングを含むカスタム操作を実行します。