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⇒ 3D光学プロファイラーとAFM、STM、SEM、蛍光、ラマン、IRおよびその他の顕微鏡を含むさまざまな機器タイプからの表面データを組み合わせます。

⇒ 異なる機器/検出器からの画像を共局在化します。

3D表面のトポグラフィに画像をオーバーレイ – 任意のズームレベルと角度で3Dオーバーレイを表示します。

⇒ カラー画像とグレースケール画像を3Dカラー擬似表面に変換(Z軸は強度単位)。

⇒ マルチチャネルデータとのコローカライゼーションを使用します。 例えば、多数の信号(高度、位相など)を含むAFMデータは、別のタイプの機器(走査型電子顕微鏡、分光法など)を使用して測定されたデータと重ね合わせることができます。

⇒ 動的画像を生成するか、コローカライゼーションの結果からマルチチャネルデータセットを抜き出します。