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Colorisation et amélioration d'images MEB
Colorisez facilement des images MEB :
En savoir plus : wwww.digitalsurf.revelateur.fr/news/add-color-to-sem-images-in-only-a-few-steps/
Corriger et améliorer des images MEB :
Reconstruction 3D à partir de paires stéréo
En savoir plus : wwww.digitalsurf.revelateur.fr/blog/7-tips-for-producing-sem-stereo-pairs/
Reconstruisez une topographie de surface 3D à partir de 4 images obtenues à l’aide d’un détecteur à quatre quadrants.
Reconstruction 3D à partir de 4 images
En savoir plus : wwww.digitalsurf.revelateur.fr/blog/using-a-four-quadrant-detector-in-3d-reconstruction/
Rendu 3D à partir d'images simples
Créez des rendus spectaculaires associant cartes EDS/EDX ou d’autres données spectrales/compositionnelles avec une topographie reconstruite à partir d’images MEB
Créez des cartes chimiques 3D avec des données EDS
Tomographie MEB-FIB
Appliquez des outils d’analyse de particules puissants à vos données MEB, identifiez et quantifiez automatiquement les caractéristiques dans l’image à l’aide d’une reconnaissance d’objet spécifiques à la MEB.
Analyse de particules 2D
Analyse de fibres
Analyse corrélative
À gauche : colocalisation d’une image MEB avec une tomographie AFM.
MountainsSEM® Premium |
MountainsSEM® Expert |
MountainsSEM® Color |
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Compatibilité des instruments |
Tout microscope électronique à balayage (SEM) |
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Fonctionnalités du produit |
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Colorisation rapide d’images MEB |
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Analyse de base et outils de mesure |
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Outils de correction et d’amélioration des images |
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Reconstruction 3D ultra rapide à partir de 2 ou 4 images MEB |
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Amélioration 3D instantanée d’images MEB |
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Superposition de cartes EDS/EDX sur une topographie de surface |
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Modules optionnels |
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Microscopie corrélative |
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Analyse de particules 2D et caractérisation |
Option | Option | |
Analyse de fibres |
Option | Option | |
Visualisation et analyse des cubes de tomographie FIB-SEM |
Option | ||
Analyse de contour |
Option | Option | |
Support pour Coques (surface de forme libre) |
Option | ||
Analyse de profil avancée |
Option | Option | |
Analyse de topographie avancée |
Option | Option | |
Analyse de Fourier et Ondelettes |
Option | Option | |
Spectroscopie |
Option | Option | |
Analyse d’épaisseur |
Option | Option | |
Changement de surface 4D |
Option | Option |
La gamme suivante des modules optionnels pour les applications avancées et spécialisées est disponible pour MountainsSEM®.