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Das bietet MountainsLab®

Datenzusammenführung
  • Daten mehrerer Instrumente zusammenführen (Profilometer, Mikroskop)
  • Analyse beschleunigen
  • Beliebige Dokumente anderer Mountains®-Anwender laden
  • Daten von praktisch allen Oberflächen- und Bildanalyseinstrumenten verarbeiten
Mit jedem Gerät kompatibel
  • Daten von Profilometern, Rasterelektronenmikroskopen (SEM), Rastersondenmikroskopen (SPM) und spektroskopischen Techniken verarbeiten
  • Hunderte Dateiformate laden
Korrelationsanalyse
  • Korrelationsanalysen durchführen
  • Daten von verschiedenen Instrumenten mit der Kolokalisierungsfunktion kombinieren und überlagern
  • Erweiterte Rendering-Optionen nutzen
Analyse der Oberflächentextur
  • Von der Erfahrung von Digital Surf in der Oberflächenmesstechnik profitieren
  • Oberflächenbeschaffenheit analysieren
  • Erweiterte Filter und Parameter nutzen
Erweiterte Partikel- und Faseranalyse
  • Partikel und Fasern auf beliebigen Oberflächen erkennen und quantifizieren
  • Von anwendungsorientierten Segmentierungsverfahren profitieren
  • Partikel auf der Grundlage von Merkmalen in Klassen gruppieren
  • Statistiken und Grafiken erstellen
Erstellen von Statistiken
  • Statistiken für statische oder dynamische Datenpopulationen erstellen
  • Statistikberichte erstellen
  • Daten von MountainsLab® automatisch erkennen und aktualisieren lassen
  • Daten grafisch darstellen
Erweiterte Konturanalyse
  • Abmessungen für Profile automatisch generieren
  • Profile mit CAD-Daten oder einer nominalen Form vergleichen
  • Formabweichungen grafisch darstellen
Kraftspektroskopie
  • Kraftkurven und Kraftvolumen analysieren
  • Adhäsionskraft ermitteln, Wormlike-Chain-Modelle (WLC) für die Proteinentfaltung anwenden, Youngsche Elastizitätsmodulkarten erzeugen usw.
Datenverarbeitung für Spektroskopie-Verfahren
  • Spektren, Spektralkarten und hyperspektrale Bilder visualisieren und analysieren
  • Spektroskopiedaten mit Daten und Bildern anderer Instrumente korrelieren
  • Multi-Channel-Würfel mit Zusammensetzungsdaten laden
REM-Bild-Einfärbung
  • Objekten in REM-Bildern mit nur wenigen Klicks einfärben
  • Automatische Objekterkennung
  • Schneller als Bildbearbeitungssoftware
3D-REM-Bildrekonstruktion
  • 3D-Oberflächentopografie aus zwei aufeinanderfolgenden, geneigten Scans einer Probe oder 4 Bildern, die mit einem 4-Quadranten-Detektor gescannt wurden, erzeugen
Lernen & Lehren
  • Tutorials und gebrauchsfertige Vorlagen für unterschiedliche Instrumententypen nutzen
  • Mit Vorlagen auf einfache Weise die Oberflächen- und Bildanalyse-Routinen erklären

Wählen Sie Ihr Produkt aus

MountainsLab® Premium

MountainsLab® Expert

Geräte-Kompatibilität

Alle Arten von Oberflächenmess- und Bildgebungsinstrumenten: 2D-/3D-Profilometer, Lichtmikroskope, Rasterelektronenmikroskope, Rastersondenmikroskope, Spektrometer usw.

Wichtigste Funktionen

Rauheits- und Welligkeitsanalyse von Profilen und Oberflächen

SEM-Bild-Einfärbung und 3D-Rekonstruktion aus Stereo- oder 4-Quadranten-SEM-Bildern

Korrekturwerkzeuge, Parameter und Filter für die SPM-Bildanalyse

Spektralkartenverarbeitung und Spektralbildkorrektur sowie ‑verbesserung

Korrekturmessung und Filterwerkzeuge für mit Lichtmikroskopen und anderen Verfahren gewonnene Bilder

Statistische Analyse statischer und dynamischer Populationen

Optionale Module

Erweiterte Profilanalyse

Profilparameter im Automobilbereich

Erweiterte Topografieanalyse

Partikelanalyse

Korrelationsanalyse

Spektroskopie

Konturanalyse

Erweiterte Konturanalyse einschließlich CAD-Vergleich

Fourier- und Wavelets-Analyse

Faseranalyse von Bildern und Topografie

Linsenanalyse

Kraftkurven- und Kraftvolumenanalyse

IV-Spektroskopie

Dickenanalyse

4D-Oberflächenveränderungsanalyse

Chemische Würfel

Unterstützung für Schalen (Freiformflächen)

Schalentopografie für messtechnische Analysen

Schale mit CAD vergleichen

Multiskalen-Fraktal-Analyse

Drallanalyse (Verdrehung)

Inbegriffen
Als Option erhältlich
Nicht kompatibel

Empfohlene optionale Module

Die folgenden optionalen Module für fortgeschrittene und spezialisierte Anwendungen sind für MountainsLab® verfügbar.

Schalen-Erweiterung (Modul)

Freiformflächen-Management, komplexe Formanalyse, hochwertige 3D-Visualisierung

Schalentopografie (Modul)

Metrologischer Werkzeugkasten für Schalendaten (Freiformflächen)

Schale-CAD-Vergleich (Modul)

Gemessene Schalendaten (Ist) einfach und effizient mit CAD-Modellen (Soll) oder erzeugten Netzen vergleichen

IV-Spektroskopie (Modul)

3D-Visualisierung und Analyse von IV-Spektroskopiebildern und einzelnen IV-Kurvenanalysen (einschließlich CITS-Daten)

Chemische Würfel (Modul)

Vollständige Visualisierung und Analyse von Multi-Channel-Würfeln mit Zusammensetzungsdaten

Spektroskopie (Modul)

Spektroskopiedaten visualisieren, analysieren und korrelieren: IR, Raman, TERS, EDS/EDX, XRF und mehr

Multiskalen-Fraktal-Analyse (Modul)

Durchführung einer Multiskalenanalyse basierend auf Längen- oder Flächenskalenanalysen (früher in Sfrax-Software)

Kraft-Abstands-Kurven-Analyse (Modul)

Analysieren von Kraftspektroskopiedaten: Kraftkurven (Kraft-Abstands-Kurven) und Kraftvolumen. Messen von Adhäsionsereignissen, Nanoindentation und Anpassen von WLC-Modellen.

Drallanalyse (Twist) (Modul)

Drallanalyse (Twist) der 2. Generation für die Automobilindustrie

Konturanalyse (Modul)

Grundlegende geometrische Bemaßung und Toleranzüberwachung von Konturprofilen und horizontalen aus Bildern oder Oberflächen extrahierten Konturen.

Erweiterte Konturanalyse (Modul)

Fortschrittliche Tools zur Bemaßung und Toleranzüberwachung, DXF-CAD-Vergleiche, gotische Bögen

4D-Oberflächenveränderung (Modul)

Analyse von Oberflächenentwicklung in Bezug auf Zeit, Temperatur, Magnetfeld oder eine andere Dimension

Fourier & Wavelets (Modul)

FFT-basierte Texturanalyse, anspruchsvolle FFT-Filterung, Multiskalenanalyse mit Wavelets

Faseranalyse (Modul)

Fasermorphologie einschließlich Durchmesser und Richtung in SEM-Bildern (SE- und BSE-Modus), Lichtmikroskopiebildern und bei topografischen Daten analysieren.

Linsenanalyse (Modul)

Asphärische Oberflächen und Profile für bildgebende Systeme, Sensoren und Laseranwendungen analysieren oder simulieren

Dickenanalyse (Modul)

Globale oder zonenspezifische interaktive Dickencharakterisierung basierend auf einem Paar von Oberflächen oder Profilen

30-Tage kostenlose Testversion

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