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Das bietet MountainsMap®

Rauheits- und ISO-Parameter

Analyse der Rauheits- und Berechnung der Oberflächentexturparameter gemäß ISO 25178, ISO 4287, ISO 13565, ISO 21920 und weiteren nationalen Normen

Datenkorrektur

Analysevorbereitung Ihrer Daten durch Entfernen von Ausreißern, lokalen Defekten und Rauschen.

Oberflächengeometrie

Analyse der Oberflächengeometrie: Berechnung von Abständen, Flächen, Stufenhöhen, Volumen und vielem mehr.

Oberflächen-Stitching

Ausweitung des Profilometerbereichs. Verwendung von Stitching, um den Bereich aller Achsen (einschließlich Z) zu erweitern und die Gerätebeschränkungen zu umgehen.

Teil-Oberflächen-Analyse

Extraktion und Analyse von Regions of Interest, um sie dann auf die gleiche Weise wie komplette gemessene Oberflächen zu untersuchen.

Analyse von Schalen (Freiformflächen)
  • Laden, Visualisieren und Analysieren von Freiformflächen (Schalen)
  • Analysieren der Oberflächenbeschaffenheit der gesamten Schale oder Extrahieren eines separat zu analysierenden Bereichs
  • Vergleich mit CAD-Modellen
Erweiterte Konturanalyse
  • Durchführen einer vollständigen Analyse von Form- und Lagetoleranz
  • Angleichen von Elementen, Berechnen von Abweichungen und Abmessungen
  • Vergleich mit CAD-Modellen
Partikelanalyse und mehr

Durchführen erweiterter Analysen der Oberflächenbeschaffenheit:

  • Partikelanalyse
  • Fourier und Wavelets
  • 4D-Analyse (Veränderung der Oberfläche im Zeitverlauf usw.)
  • Dickenanalyse
  • Faseranalyse
  • und mehr
Korrelationsanalyse

Durchführen von Korrelationsanalysen und Kolokalisierung der Daten aller Profilometer oder Mikroskope mit ein und derselben Software.

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    Wählen Sie Ihr Produkt aus

    MountainsMap® Premium

    MountainsMap® Expert

    MountainsMap® Imaging Topography

    MountainsMap® Topography

    MountainsMap® Profile

    Geräte-Kompatibilität

    Alle Profil-Messgeräte and flächenhaft arbeitende Messgeräte

    Alle Profil-Messgeräte and flächenhaft arbeitende Messgeräte

    Flächenhaft arbeitende optische Profilometer, die Topografiekarten zusammen mit einem Intensitäts- bzw. Farbbild erzeugen

    • Konfokalmikroskope
    • Fokusvariationsmikroskope
    • Weißlichtinterferometer
    • Flächenhaft arbeitende optische oder taktile Profilometer zur Erstellung von Topografiekarten
    • Flächenhaft arbeitende taktile Profilometer
    • Scannende optische Einpunkt-Profilometer

    2D-Kontaktprofilometer und optische Profilometer

    Wichtigste Funktionen

    Analyse der Profilrauheit und ‑welligkeit

    Grundlegende Analyse von Oberflächendaten

    Stitchen von Bildern und Oberflächen, Beseitigung von Ausreißern und Multifokus-Rekonstruktion

    Unterstützung von Dateiformaten aus optischen Profilometern

    Optionale Module

    Erweiterte Profilanalyse

    Option Option Option

    Profilparameter im Automobilbereich

    Option Option Option

    Erweiterte Topographie

    Option Option

    Partikelanalyse

    Option Option Option

    Faseranalyse von Bildern und Topografie

    Option Option Option

    Konturanalyse

    Option Option Option Option

    Erweiterte Konturanalyse einschließlich CAD-Vergleich

    Option Option Option Option Option

    Dickenanalyse

    Option Option Option Option

    4D-Oberflächenveränderung

    Option Option

    Linsenanalyse

    Option Option Option Option

    Fourier- und Wavelets-Analyse

    Option Option Option

    Schalen-Erweiterung (Freiformflächen)

    Option Option Option

    Schalentopografie für messtechnische Analysen

    Option Option Option Option

    Schale mit CAD vergleichen

    Option Option Option Option

    Drallanalyse (Twist)

    Option Option Option Option

    Multiskalen-Fraktalanalyse

    Option Option Option Option

    Kolokalisierung für die Korrelationsanalyse

    Option Option Option
    Inbegriffen
    Option
    Als Option erhältlich
    Nicht kompatibel

    Empfohlene optionale Module

    Die folgenden optionalen Module für fortgeschrittene und spezialisierte Anwendungen sind für MountainsMap® verfügbar.

    Schalen-Erweiterung (Modul)

    Freiformflächen-Management, komplexe Formanalyse, hochwertige 3D-Visualisierung

    Schalentopografie (Modul)

    Metrologischer Werkzeugkasten für Schalendaten (Freiformflächen)

    Schale-CAD-Vergleich (Modul)

    Gemessene Schalendaten (Ist) einfach und effizient mit CAD-Modellen (Soll) oder erzeugten Netzen vergleichen

    Multiskalen-Fraktal-Analyse (Modul)

    Durchführung einer Multiskalenanalyse basierend auf Längen- oder Flächenskalenanalysen (früher in Sfrax-Software)

    Automobilindustrie (Modul)

    Bewerten der Funktionsleistung, mit einem vollständigen Satz von Profilparametern, die von der Automobilindustrie entwickelt wurden

    Drallanalyse (Twist) (Modul)

    Drallanalyse (Twist) der 2. Generation für die Automobilindustrie

    Konturanalyse (Modul)

    Grundlegende geometrische Bemaßung und Toleranzüberwachung von Konturprofilen und horizontalen aus Bildern oder Oberflächen extrahierten Konturen.

    Erweiterte Konturanalyse (Modul)

    Fortschrittliche Tools zur Bemaßung und Toleranzüberwachung, DXF-CAD-Vergleiche, gotische Bögen

    4D-Oberflächenveränderung (Modul)

    Analyse von Oberflächenentwicklung in Bezug auf Zeit, Temperatur, Magnetfeld oder eine andere Dimension

    Partikelanalyse (Modul)

    Umfassendes Toolset zum Nachweis und zur Analyse von Partikeln, Poren, Körnern, Inseln usw. auf strukturierten Oberflächen

    Erweitertes Profil (Modul)

    Erweiterte Profilfilterung, Fourier-Analyse, Fraktalanalyse und statistische Analyse von Profilserien

    Fourier & Wavelets (Modul)

    FFT-basierte Texturanalyse, anspruchsvolle FFT-Filterung, Multiskalenanalyse mit Wavelets

    Faseranalyse (Modul)

    Fasermorphologie einschließlich Durchmesser und Richtung in SEM-Bildern (SE- und BSE-Modus), Lichtmikroskopiebildern und bei topografischen Daten analysieren.

    Dickenanalyse (Modul)

    Globale oder zonenspezifische interaktive Dickencharakterisierung basierend auf einem Paar von Oberflächen oder Profilen

    Linsenanalyse (Modul)

    Asphärische Oberflächen und Profile für bildgebende Systeme, Sensoren und Laseranwendungen analysieren oder simulieren

    Kolokalisierung (Modul)

    Oberflächen- und Bilddaten von Messgeräten desselben Typs bzw. unterschiedlicher Typen kolokalisieren und angleichen

    30-Tage kostenlose Testversion

    Free trial

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