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Optionale Module
Unterschiedliche Forschungs- und Industrieprojekte erfordern unterschiedliche Werkzeuge und Techniken. Aus diesem Grund bieten wir für jedes unserer Produkte optionale Zusatzmodule an.
Partikelanalyse (Modul)
Umfassendes Toolset zum Nachweis und zur Analyse von Partikeln, Poren, Körnern, Inseln usw. auf strukturierten Oberflächen
Faseranalyse (Modul)
Fasermorphologie einschließlich Durchmesser und Richtung in SEM-Bildern (SE- und BSE-Modus), Lichtmikroskopiebildern und bei topografischen Daten analysieren.
Konturanalyse (Modul)
Grundlegende geometrische Bemaßung und Toleranzüberwachung von Konturprofilen und horizontalen aus Bildern oder Oberflächen extrahierten Konturen.
Erweiterte Konturanalyse (Modul)
Fortschrittliche Tools zur Bemaßung und Toleranzüberwachung, DXF-CAD-Vergleiche, gotische Bögen
Erweiterte Topographie (Modul)
Weiterführende Untersuchungen, Parameter und Filter zur („flächenhaften“) 3D-Oberflächentexturanalyse
Erweitertes Profil (Modul)
Erweiterte Profilfilterung, Fourier-Analyse, Fraktalanalyse und statistische Analyse von Profilserien
Automobilindustrie (Modul)
Bewerten der Funktionsleistung, mit einem vollständigen Satz von Profilparametern, die von der Automobilindustrie entwickelt wurden
4D-Oberflächenveränderung (Modul)
Analyse von Oberflächenentwicklung in Bezug auf Zeit, Temperatur, Magnetfeld oder eine andere Dimension
Dickenanalyse (Modul)
Globale oder zonenspezifische interaktive Dickencharakterisierung basierend auf einem Paar von Oberflächen oder Profilen
Linsenanalyse (Modul)
Asphärische Oberflächen und Profile für bildgebende Systeme, Sensoren und Laseranwendungen analysieren oder simulieren
Multiskalen-Fraktal-Analyse (Modul)
Durchführung einer Multiskalenanalyse basierend auf Längen- oder Flächenskalenanalysen (früher in Sfrax-Software)
Fourier & Wavelets (Modul)
FFT-basierte Texturanalyse, anspruchsvolle FFT-Filterung, Multiskalenanalyse mit Wavelets
Metrologischer Werkzeugkasten für Schalendaten (Freiformflächen)
Schale-CAD-Vergleich (Modul)
Gemessene Schalendaten (Ist) einfach und effizient mit CAD-Modellen (Soll) oder erzeugten Netzen vergleichen
Kraft-Abstands-Kurven-Analyse (Modul)
Analysieren von Kraftspektroskopiedaten: Kraftkurven (Kraft-Abstands-Kurven) und Kraftvolumen. Messen von Adhäsionsereignissen, Nanoindentation und Anpassen von WLC-Modellen.
IV-Spektroskopie (Modul)
3D-Visualisierung und Analyse von IV-Spektroskopiebildern und einzelnen IV-Kurvenanalysen (einschließlich CITS-Daten)
Korrelative Mikroskopie (Modul)
Spektralkarten verarbeiten, Spektralbilddaten korrigieren und verbessern sowie Korrelationsanalysen durchführen
Spektroskopie (Modul)
Spektroskopiedaten visualisieren, analysieren und korrelieren: IR, Raman, TERS, EDS/EDX, XRF und mehr
Chemische Würfel (Modul)
Vollständige Visualisierung und Analyse von Multi-Channel-Würfeln mit Zusammensetzungsdaten
Drallanalyse (Twist) (Modul)
Drallanalyse (Twist) der 2. Generation für die Automobilindustrie
Kolokalisierung (Modul)
Oberflächen- und Bilddaten von Messgeräten desselben Typs bzw. unterschiedlicher Typen kolokalisieren und angleichen
