⇒ Oberflächen- und Bilddaten, die mit einem Instrument oder verschiedenen Instrumententypen gewonnen wurden, kombinieren, einschließlich optischer 3D-Profilometer, Rasterkraftmikroskope, Rastertunnelmikroskope, Rasterelektronenmikroskope, Fluoreszenz-, Raman-, IR-, EDX/EDS- und anderer Mikroskope
⇒ Dynamische Bilder erzeugen oder Datensätze erzeugen (aus den Ergebnissen der Kolokalisierung)
⇒ Bilder auf einer 3D-Oberflächen-Topografie überlagern – 3D-Überlagerungen in beliebigen Zoomstufen und Winkeln betrachten*
⇒ Farb- und Graustufenbilder in farbige 3D-Pseudo-Oberflächen konvertieren (Z-Achse in Intensitätseinheiten)*
⇒ Kolokalisierung mit Multi-Channel-Daten nutzen. Sie können zum Beispiel AFM-Daten mit mehreren Signalen (Höhe, Phase usw.) mit Messdaten eines anderen Instruments (Rasterelektronenmikroskopie, Spektroskopie usw.) überlagern.*
* Abhängig vom erworbenen Hauptprodukt
Enthalten in:
- MountainsSPIP® Premium
- MountainsSEM® Expert
- MountainsSEM® Premium
- MountainsSpectral® Correlate
- MountainsSpectral® Expert
- MountainsSpectral® Premium
- MountainsLab® Expert
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Verfügbar als optionales Modul für:
- MountainsMap® Imaging Topography
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- MountainsSPIP® Starter
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