⇒ Kombinieren von Oberflächendaten aus verschiedenen Instrumententypen einschließlich optischer 3D-Profilometer und AFM, RTM, REM, Fluoreszenz-, Raman-, IR- und anderer Mikroskope.
⇒ Kolokalisieren von Bildern aus verschiedenen Geräten/Detektoren.
⇒ Überlagerung von Bildern auf einer 3D-Oberflächen-Topographie – Anzeige von 3D-Überlagerungen in beliebigen Zoomstufen und Winkeln.
⇒ Konvertieren von Farb- und Graustufenbildern in farbige 3D-Pseudo-Oberflächen (Z-Achse in Intensitätseinheiten).