„REM-Topographie“ schließt die Lücke zwischen der Analyse von Rasterelektronenmikroskopie-Daten und anderen Mountains®-Softwareprodukten für Profilometer oder SPM.
⇒ Ultraschnelle 3D-Rekonstruktion – Rekonstruktion von 3D-Modellen Ihrer Messung aus Stereobildpaaren, Anaglyphen oder Bildern, die von 4-Quadranten-Detektoren erzeugt wurden.
⇒ Computergestützte Bild-Einfärbung -Einfärben eines REM-Bildes dank halbautomatischer Objektsegmentierung mit wenigen Klicks und Erstellung hochwertige Farbbilder für Publikationen und Poster.
⇒ Erstellen von 3D-Darstellungen aus einzelnen REM-Bildern und Verbesserung der visuellen Interpretation des Bildes
⇒ Hochwertige Bildverarbeitung – Verbessern der Bildqualität mit Bildverbesserungswerkzeugen und Rauschunterdrückungsfiltern.
⇒ Distanz- und Winkelmessung – Objekte in der Bildebene messen.
⇒ Anaglyphen – Erzeugen von Anaglyphen aus 3D-Topografie zur Betrachtung mit einer Stereobrille.
⇒ Extraktion von Profilen (Querschnitten) – aus rekonstruierten 3D-Oberflächen.
⇒ Konturdimensionsanalyse von aus der XY-Ebene extrahierten flachen horizontalen Konturen und vertikalen Konturen (XZ-Profile).
⇒ Analyse von Teil-Oberflächen – Zonen auf Oberflächen von mikroelektronischen, mikromechanischen und anderen Bauteilen extrahieren und ausrichten.
⇒ Kolokalisierung für Korrelationsuntersuchungen – Verschiedene REM-Bilder kolokalisieren (z. B. ein Rückstreuelektronenbild mit einem Sekundärelektronenbild) – REM-Bilder mit Oberflächentopographie kolokalisieren, die mit anderen Mikroskopen oder Profilometern erhalten wurde * – Bilder auf 3D-Oberflächentopographie überlagern*. (*Die Verfügbarkeit dieser Funktionen hängt davon ab, welche Instrumentendateiformate von Ihrer Software unterstützt werden.)
⇒ MATLAB™-Kompatibilität – MATLAB™-Skripte laden, erstellen und ausführen, um benutzerdefinierte Operationen einschließlich Filterung durchzuführen.