⇒ Ein beliebiges Oberflächen- oder Profil-Paar ausrichten, um ein “Dickenpaar” zu erstellen mit manuellen oder halbautomatischen Werkzeugen – Anpassen der unteren Dickenschicht an die Koordinaten und Ausrichtung der oberen Schicht (das bedeutet, dass Dicke mit jeder Art von Profiler oder Mikroskop gemessen werden kann).
⇒ Verwalten von Daten von optischen/konfokalen Mikroskopen, die eine mehrschichtige Beobachtung von einem einzigen Scan durch transparente oder halbtransparente Schichten wie Beschichtungen ermöglichen.
⇒ Interaktive Dickenanalyse zwischen einer oberen und unteren Schicht
⇒ Globale Dickenparameter generieren: mittlere Dicke, Minimum/Maximum, Standardabweichung, Schiefe, Kurtosis etc.
⇒ Parameterberechnung an einem bestimmten Punkt, entlang einer Linie oder für eine Zone
⇒ Definieren von maximalen und minimalen Dickengrenzen und problemlose Identifikation von Zonen, die außerhalb der Toleranzen liegen (nützlich für Anwendungen, bei denen Dickenkonstanz wichtig ist: Lacke, Beschichtungen, Münzprägung, Sicherheitsdruck, Dichtmembranen usw.)
⇒ Generieren beeindruckender 3D-Dickenvisualisierungen
⇒ Erstellung von Querschnitten, um 2D-Analysen mit zwei Profilen von Membranen zu erhalten mit interaktiver Messung