⇒ 3D光学プロファイラーとAFM、STM、SEM、蛍光、ラマン、IRおよびその他の顕微鏡を含むさまざまな機器タイプからの表面データを組み合わせます。
⇒ 異なる機器/検出器からの画像を共局在化します。
⇒ 3D表面のトポグラフィに画像をオーバーレイ – 任意のズームレベルと角度で3Dオーバーレイを表示します。
⇒ カラー画像とグレースケール画像を3Dカラー擬似表面に変換（Z軸は強度単位）。
⇒ マルチチャネルデータとのコローカライゼーションを使用します。 例えば、多数の信号(高度、位相など)を含むAFMデータは、別のタイプの機器(走査型電子顕微鏡、分光法など)を使用して測定されたデータと重ね合わせることができます。
⇒ 動的画像を生成するか、コローカライゼーションの結果からマルチチャネルデータセットを抜き出します。