共局在（モジュール）

⇒ 3D光学プロファイラーとAFM、STM、SEM、蛍光、ラマン、IRおよびその他の顕微鏡を含むさまざまな機器タイプからの表面データを組み合わせます。

⇒ 異なる機器/検出器からの画像を共局在化します。

⇒ 3D表面のトポグラフィに画像をオーバーレイ – 任意のズームレベルと角度で3Dオーバーレイを表示します。

⇒ カラー画像とグレースケール画像を3Dカラー擬似表面に変換（Z軸は強度単位）。