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Disponible avec MountainsLab®

Confluence des données
  • Regrouper les données provenant de différents instruments (profilomètre, microscope)
  • Accélérer l’analyse
  • Charger n’importe quel document créé par d’autres utilisateurs de Mountains®
  • Traiter les données de quasiment n’importe quel type d’instrument d’analyse de surfaces et d’images
Compatible avec n'importe quel instrument
  • Traitez des données de profilomètres, de microscopes optiques, de microscopes électroniques à balayage (SEM), de microscopes à sonde locale (SPM) et de techniques spectroscopiques
  • Chargez des centaines de formats de fichiers
Analyse corrélative
  • Réaliser une analyse corrélative
  • Utiliser la fonction de colocalisation pour combiner et superposer des données de différents instruments
  • Accéder à des options de rendu avancées
Analyse d'états de surface
  • Tirer parti de l’expérience de Digital Surf en métrologie et analyse de surfaces
  • Analyser l’état de la surface
  • Accéder à des filtres et paramètres avancés
Analyse de particules et de fibres avancée
  • Détectez et quantifiez des particules et des fibres d’intersection sur n’importe quelle surface
  • Tirez parti de techniques de segmentation orientées applications
  • Regroupez les particules en classes en fonction de leurs caractéristiques
  • Générez des statistiques et des graphiques
Statistiques générales
  • Générer des statistiques pour des populations de données statiques ou dynamiques
  • Créer des rapports statistiques
  • Détecter et mettre à jour automatiquement les données de MountainsLab®
  • Afficher des données sous forme graphique
Analyse de contour avancée
  • Générer automatiquement des dimensions de profil
  • Comparer les profils avec les données CAO ou une forme nominale
  • Afficher des écarts de forme sous forme graphique
Spectroscopie de force
  • Analyser les courbes de force et les données force-volume
  • Détecter une force d’adhésion, appliquer des modèles WLC (wormlike chain) pour le dépliement de protéines, générer une carte du module de Young, etc.
Traitement des données pour les techniques spectroscopiques
  • Visualisez et analysez des spectres, cartes spectrales et images spectrales
  • Corrélez des données de spectroscopie à des données et images d’autres instruments
  • Chargez des cubes multicanaux de données compositionnelles
Colorisation d'images MEB
  • Ajouter de la couleur aux objets dans les images MEB en seulement quelques clics
  • Détection automatique d’objets
  • Gagner du temps plutôt que d’utiliser un logiciel d’édition d’images
Reconstruction d'images MEB en 3D
  • Générer une topographie de surface en 3D à partir de deux balayages inclinés successifs de votre échantillon ou 4 images balayées par un détecteur à 4 quadrants, le tout en quelques secondes.
Apprendre et enseigner
  • Accéder aux tutoriels et aux modèles prêts à l’emploi adaptés à chaque type d’instrument
  • Apprendre à de nouveaux collègues les routines d’analyse de surfaces et d’images à l’aide de documents-modèles

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Compatibilité des instruments

Tous types d’instrument d’imagerie et de mesure de surfaces : Profilomètre 2D/3D, microscope optique, microscopes électroniques à balayage, microscopes à sonde locale, spectromètre, etc.

Fonctionnalités clés

Analyse de rugosité et d’ondulation sur des profils et des surfaces

Colorisation d’images SEM et reconstruction 3D à partir d’images SEM stéréo ou quatre quadrants

Outils de correction, paramètres et filtres pour l’analyse d’images de microscopes à sonde locale

Traitement de cartes spectrales et amélioration et correction d’images spectrales

Mesure de correction et outils de filtrage pour les images de microscopes optiques et d’autres techniques

Analyse statistique des populations de données statiques et dynamiques

Modules optionnels

Analyse de profil avancée

Paramètres de profils automobiles

Analyse de topographie avancée

Analyse de particules

Analyse corrélative

Spectroscopie

Analyse de contour

Option

Analyse de contour avancée avec comparaison CAD

Option

Analyse de Fourier et Ondelettes

Option

Analyse de fibres d’images et topographie

Option

Analyse de lentilles

Option

Courbe de force et analyse force-volume

Option

Spectroscopie IV

Option

Analyse d’épaisseur

Option

Analyse de changement de surface 4D

Option

Cubes chimiques

Option

Support pour Coques (surface de forme libre)

Option

Topographie de Coque pour l’analyse métrologique

Option

Coque avec comparaison CAD

Option Option

Analyse fractale multi-échelle

Option Option

Analyse de structures hélicoïdales (Twist)

Option Option
Inclus
Option
Disponible en option
Non compatible

Modules optionnels recommandés

La gamme suivante de modules optionnels pour des applications avancées et spécialisées est disponible pour MountainsMap®.

Analyse de contour (Module)

Dimensionnement géométrique de base et tolérancement des profils de contour et profils horizontaux (extraits d'images, de surfaces etc.)

Analyse de contour avancée (Module)

Dimensionnement et tolérancement avancés, comparaison CAO en DXF, arche gothique

Extension Coques (Module)

Gestion de surfaces de forme libre, analyse de forme complexe, visualisations 3D de haute qualité

Topographie des Coques (Module)

Une boîte à outils métrologiques pour les données de type coques (surfaces de forme libre)

Spectroscopie IV (Module)

Visualisation 3D et analyse des images spectroscopiques IV et analyse individuelle de la courbe IV (y compris les données CITS)

Cubes chimiques (Module)

Visualisation et analyse complètes de cubes multicanaux de données compositionnelles

Spectroscopie (Module)

Visualiser, traiter, analyser et corréler les données de spectroscopie : IR, Raman/TERS, EDS/EDX/XRF et plus

Analyse multi-échelle (Module)

Méthodes multi-échelles ("scale-sensitive") pour l'analyse des propriétés géométriques des surfaces et des dérivées (complexités) d’échelle, notamment les méthodes length-scale et area-scale (anciennement logiciel Sfrax)

Analyse de courbes de force (Module)

Analyser les données de spectroscopie de force : courbes de force (courbes de données force-distance) et données force-volume. Mesurer les événements d'adhésion, la nanoindentation et ajuster les modèles WLC.

Analyse de structures hélicoïdales (Twist) (Module)

Analyse de 2ème génération de structures hélicoïdales (twist) pour l'industrie automobile

Changement de surface 4D (Module)

Analyser l'évolution d'une surface en fonction du temps, de la température, du champ magnétique ou de toute autre dimension

Fourier et Ondelettes (Module)

Analyse de texture basée sur la Transformation de Fourier rapide (FFT), filtrage FFT avancé, analyse multi-échelle par ondelettes

Analyse d’épaisseur (Module)

Caractérisation interactive de l'épaisseur globale ou spécifique à une zone basée sur une paire de surfaces ou de profils

Analyse de fibres (Module)

Analyser la morphologie de fibres, y compris le diamètre et la direction dans des images SEM (modes SE et BSE), dans des images de microscopie optique et dans des données topographiques.

Analyse de Lentilles (Module)

Analyser ou simuler des profils et surfaces asphériques pour les systèmes d'imagerie, applications laser et capteurs

Comparaison Coque-CAD (Module)

Comparer efficacement et facilement des données de Coque mesurées (réel) aux modèles CAD (nominal) ou aux mailles générées

30 jours d'essai gratuit

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