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Compatibilité des instruments | Tous types d'instrument d'imagerie et de mesure de surfaces : Profilomètre 2D/3D, microscopes électroniques à balayage, microscopes à sonde locale, etc. | |
Amélioration & correction des images | ||
Amélioration 3D instantanée d'images MEB | ||
Analyse des particules et des pores des surfaces et données d'image | ||
Analyse statistique des populations de données statiques et dynamiques | ||
Colorisation d'image MEB semi-automatique | ||
Correction et amélioration des données SPM multicouche | ||
Courbe de force et analyse force-volume et fonctions | ||
Détection, analyse et classification des particules et pores de données de surface (topographie) | ||
Ensemble exhaustif de paramètres d'état de surface | ||
Gamme complète d'outils d'analyse 2D et de caractérisation des images MEB. | ||
Mesures dimensionnelles (hauteurs de marche, distances etc.) de données SPM | ||
Paramètres de l'industrie automobile, filtres avancés, paramètres | ||
Reconstruction 3D ultra rapide d'images MEB stéréo ou quatre quadrants | ||
Tous les modules disponibles de la gamme Mountains® |
Des modules pour les applications avancées et spécialisées peuvent être rajoutés en option aux produits MountainsLab®.