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Das bietet MountainsMap®

Rauheits- und ISO-Parameter

Analyse der Rauheits- und Berechnung der Oberflächentexturparameter gemäß ISO 25178, ISO 4287, ISO 13565, ISO 21920 und weiteren nationalen Normen

Datenkorrektur

Analysevorbereitung Ihrer Daten durch Entfernen von Ausreißern, lokalen Defekten und Rauschen.

Oberflächengeometrie

Analyse der Oberflächengeometrie: Berechnung von Abständen, Flächen, Stufenhöhen, Volumen und vielem mehr.

Oberflächen-Stitching

Ausweitung des Profilometerbereichs. Verwendung von Stitching, um den Bereich aller Achsen (einschließlich Z) zu erweitern und die Gerätebeschränkungen zu umgehen.

Teil-Oberflächen-Analyse

Extraktion und Analyse von Regions of Interest, um sie dann auf die gleiche Weise wie komplette gemessene Oberflächen zu untersuchen.

Analyse von Schalen (Freiformflächen)
  • Laden, Visualisieren und Analysieren von Freiformflächen (Schalen)
  • Analysieren der Oberflächenbeschaffenheit der gesamten Schale oder Extrahieren eines separat zu analysierenden Bereichs
  • Vergleich mit CAD-Modellen
Erweiterte Konturanalyse
  • Durchführen einer vollständigen Analyse von Form- und Lagetoleranz
  • Angleichen von Elementen, Berechnen von Abweichungen und Abmessungen
  • Vergleich mit CAD-Modellen
Partikelanalyse und mehr

Durchführen erweiterter Analysen der Oberflächenbeschaffenheit:

  • Partikelanalyse
  • Fourier und Wavelets
  • 4D-Analyse (Veränderung der Oberfläche im Zeitverlauf usw.)
  • Dickenanalyse
  • Faseranalyse
  • und mehr
Korrelationsanalyse

Durchführen von Korrelationsanalysen und Kolokalisierung der Daten aller Profilometer oder Mikroskope mit ein und derselben Software.

Wählen Sie Ihr Produkt aus

MountainsMap® Premium

MountainsMap® Expert

MountainsMap® Imaging Topography

MountainsMap® Topography

MountainsMap® Profile

Geräte-Kompatibilität

Alle Profil-Messgeräte and flächenhaft arbeitende Messgeräte

Alle Profil-Messgeräte and flächenhaft arbeitende Messgeräte

Flächenhaft arbeitende optische Profilometer, die Topografiekarten zusammen mit einem Intensitäts- bzw. Farbbild erzeugen

  • Konfokalmikroskope
  • Fokusvariationsmikroskope
  • Weißlichtinterferometer
  • Flächenhaft arbeitende optische oder taktile Profilometer zur Erstellung von Topografiekarten
  • Flächenhaft arbeitende taktile Profilometer
  • Scannende optische Einpunkt-Profilometer

2D-Kontaktprofilometer und optische Profilometer

Wichtigste Funktionen

Analyse der Profilrauheit und ‑welligkeit

Grundlegende Analyse von Oberflächendaten

Stitchen von Bildern und Oberflächen, Beseitigung von Ausreißern und Multifokus-Rekonstruktion

Unterstützung von Dateiformaten aus optischen Profilometern

Optionale Module

Erweiterte Profilanalyse

Profilparameter im Automobilbereich

Partikelanalyse

Faseranalyse von Bildern und Topografie

Konturanalyse

Erweiterte Konturanalyse einschließlich CAD-Vergleich

Dickenanalyse

4D-Oberflächenveränderung

Linsenanalyse

Fourier- und Wavelets-Analyse

Schalen-Erweiterung (Freiformflächen)

Schalentopografie für messtechnische Analysen

Schale mit CAD vergleichen

Drallanalyse (Twist)

Multiskalen-Fraktalanalyse

Kolokalisierung für die Korrelationsanalyse

Inbegriffen
Als Option erhältlich
Nicht kompatibel

Empfohlene optionale Module

Die folgenden optionalen Module für fortgeschrittene und spezialisierte Anwendungen sind für MountainsMap® verfügbar.

Schalen-Erweiterung (Modul)

Freiformflächen-Management, komplexe Formanalyse, hochwertige 3D-Visualisierung

Schalentopografie (Modul)

Metrologischer Werkzeugkasten für Schalendaten (Freiformflächen)

Schale-CAD-Vergleich (Modul)

Gemessene Schalendaten (Ist) einfach und effizient mit CAD-Modellen (Soll) oder erzeugten Netzen vergleichen

Multiskalen-Fraktal-Analyse (Modul)

Durchführung einer Multiskalenanalyse basierend auf Längen- oder Flächenskalenanalysen (früher in Sfrax-Software)

Automobilindustrie (Modul)

Bewerten der Funktionsleistung, mit einem vollständigen Satz von Profilparametern, die von der Automobilindustrie entwickelt wurden

Drallanalyse (Twist) (Modul)

Drallanalyse (Twist) der 2. Generation für die Automobilindustrie

Konturanalyse (Modul)

Grundlegende geometrische Bemaßung und Toleranzüberwachung von Konturprofilen und horizontalen aus Bildern oder Oberflächen extrahierten Konturen.

Erweiterte Konturanalyse (Modul)

Fortschrittliche Tools zur Bemaßung und Toleranzüberwachung, DXF-CAD-Vergleiche, gotische Bögen

4D-Oberflächenveränderung (Modul)

Analyse von Oberflächenentwicklung in Bezug auf Zeit, Temperatur, Magnetfeld oder eine andere Dimension

Partikelanalyse (Modul)

Umfassendes Toolset zum Nachweis und zur Analyse von Partikeln, Poren, Körnern, Inseln usw. auf strukturierten Oberflächen

Erweitertes Profil (Modul)

Erweiterte Profilfilterung, Fourier-Analyse, Fraktalanalyse und statistische Analyse von Profilserien

Fourier & Wavelets (Modul)

FFT-basierte Texturanalyse, anspruchsvolle FFT-Filterung, Multiskalenanalyse mit Wavelets

Faseranalyse (Modul)

Fasermorphologie einschließlich Durchmesser und Richtung in SEM-Bildern (SE- und BSE-Modus), Lichtmikroskopiebildern und bei topografischen Daten analysieren.

Dickenanalyse (Modul)

Globale oder zonenspezifische interaktive Dickencharakterisierung basierend auf einem Paar von Oberflächen oder Profilen

Linsenanalyse (Modul)

Asphärische Oberflächen und Profile für bildgebende Systeme, Sensoren und Laseranwendungen analysieren oder simulieren

Kolokalisierung (Modul)

Oberflächen- und Bilddaten von Messgeräten desselben Typs bzw. unterschiedlicher Typen kolokalisieren und angleichen

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