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Korrelations- und Spektroskopie-Analysesoftware für die Mikroskopie

MountainsSpectral® basiert auf der Analysesoftwareplattform, der die Wissenschaft vertraut. Es ist eine umfassende und spezialisierte Lösung zum Verarbeiten und Kombinieren von Bildern und anderen Daten, die mit spektroskopischen Verfahren wie Raman, TERS, IR, nanoIR, Fluoreszenz, Fotolumineszenz, Kathodolumineszenz, EDX/EDS und XPS gewonnen wurden.
Bilder und Spektralkarten für die Korrelationsanalyse kolokalisieren – Spektralkarten verarbeiten und verbessern – Bilder schnell verarbeiten und verbessern – Hochwertige 3D-Overlays erstellen – Multi-Channel-Würfel laden und Materialzusammensetzung komplett in 3D visualisieren – Spektralanalyse einschließlich Vorverarbeitung, Bandanalyse und multivariater Analyse sowie Peak-Anpassung durchführen – Partikelanalysewerkzeuge für spektroskopische Daten nutzen – Merkmale klassifizieren und mächtige statistische Werkzeuge anwenden

Das bietet MountainsSpectral®

Verarbeiten und Analysieren von Spektren

Vorbereiten von Spektren für die Analyse: Basislinie und Filter korrigieren, um Rauschen zu entfernen
Peak-Anpassung
In KnowItAll-Bibliothek für spektrale Daten exportieren
Verwenden der Bänderansicht
Durchführen einer multivariaten Analyse

Verarbeiten von Spektralkarten

Verarbeiten von Raman-, Kathodolumineszenz-, Fotolumineszenz-, Fluoreszenz-, EDX/EDS- und EELS-Karten
Optimieren von Rendering, Paletten, Farbmischung und Transparenz

Verarbeiten und Verbessern von Bildern

Bilder korrigieren und verbessern, die mittels spektroskopischer Verfahren gewonnen wurden: Glättfilter anwenden, Bildartefakte entfernen, Beleuchtung korrigieren sowie Helligkeit und Kontrast interaktiv anpassen.

Korrelationsanalyse

Kolokalisieren von Bildern und Spektralkarten eines oder mehrerer Instrumente
Kombinieren von Daten aus unterschiedlichen Quellen zu einem einzelnen, multimodalen Datensatz

Darstellen von Zusammensetzungsdaten als Overlay auf Bildern

Erstellen von 3D-Effekten für EDS/EDX-Karten
Erstellen spektakulärer Darstellungen für EDS/EDX-Karten oder andere spektrale/Zusammensetzungsdaten mit REM-Bildern (oder ggf. aus REM-Bildern wiederhergestellter Topografie)

Darstellung der Zusammensetzung von Materialen in echtem 3D

Verknüpfung von Tomografie und chemischer Analyse
Laden von 3D-Multi-Channel-Würfeln mit Zusammensetzungsdaten (chemische Würfel)

Vorteile

Rückverfolgbarkeit Ihrer Arbeit

Mit dem einzigartigen Mountains®-Analyseablauf haben Sie stets die Übersicht über alle bisherigen Analyseschritte.
Sie können einzelne Schritte jederzeit anpassen. Davon abhängige Schritte werden dann automatisch aktualisiert.

Vorteile

Einfache Veröffentlichung und Berichterstellung

Prozesse werden während der Analyse in ein Dokumentlayout übernommen.
Speichern Sie Ihre Arbeit als PDF- oder Word-Datei für die einfache Weitergabe an Kollegen, Studierende, Kunden usw.
Erstellen Sie eigene Tutorialvorlagen, um bebilderte und kommentierte Analyserezepte mit anderen zu teilen.

Vorteile

Leistungsstarke Automatisierung

Beschleunigen Sie den Analyseablauf mit No-Code-Werkzeugen.
Erstellen Sie Vorlagen, um Analyseschritte für andere Datensätze erneut zu verwenden.

Vorteile

Bedienoberfläche und Hilfe in Ihrer Sprache

Die Bedienoberfläche von MountainsSpectral® steht in 11 Sprachen zur Verfügung.
Unser internationales Support-Team hilft Ihnen bei Fragen zur Softwarenutzung.

Vorteile

Hervorragende Kompatibilität, Fachwissen zur Oberflächenanalyse

Daten aus einer Vielzahl spektroskopischer Techniken verarbeiten (Raman, TERS, IR, nanoIR, Fluoreszenz, Fotolumineszenz, Kathodolumineszenz, EDX/EDS und XPS)
Teil der über 22.000 Mountains®-Anwender weltweit werden
Verwenden Sie die Analysesoftware, der führende Hersteller vertrauen.
Die Mehrheit der nationalen Forschungslabors vertraut auf die Präzision von Mountains® (NIST, NPL, PTB, LNE usw.).

Wählen Sie Ihr Produkt aus

	MountainsSpectral® Premium	MountainsSpectral® Expert	MountainsSpectral® Correlate	MountainsSpectral® Analyze
Geräte-Kompatibilität	Spektroskopie-Verfahren: Raman, TERS, IR, nanoIR, Fluoreszenz, Fotolumineszenz, Kathodolumineszenz, EDX/EDS, XRF
Produktfunktionen
Verarbeitung, Verbesserung und Zusammenstellung von Spektralkarten
Bildkorrektur und -verbesserung
Analyse der Topografie (anhand von AFM-Bildern)
Hochwertige Overlays aus Zusammensetzungsdaten zur Topografie
Erweiterte Verarbeitung und Analyse von Spektren		Option	Option	Option
Optionale Module
Korrelative Mikroskopie
Partikelanalyse		Option	Option
Visualisierung und Analyse (chemischer) Multi-Channel-Würfel		Option	Option
Faseranalyse	Option	Option	Option
IV-Spektroskopie	Option	Option

Inbegriffen

Option

Als Option erhältlich

Nicht kompatibel

Angebotsanfrage

Empfohlene optionale Module

Die folgenden optionalen Module für fortgeschrittene und spezialisierte Anwendungen sind für MountainsSpectral® verfügbar.

Partikelanalyse (Modul)

Umfassendes Toolset zum Nachweis und zur Analyse von Partikeln, Poren, Körnern, Inseln usw. auf strukturierten Oberflächen

Chemische Würfel (Modul)

Vollständige Visualisierung und Analyse von Multi-Channel-Würfeln mit Zusammensetzungsdaten

Faseranalyse (Modul)

Fasermorphologie einschließlich Durchmesser und Richtung in SEM-Bildern (SE- und BSE-Modus), Lichtmikroskopiebildern und bei topografischen Daten analysieren.

IV-Spektroskopie (Modul)

3D-Visualisierung und Analyse von IV-Spektroskopiebildern und einzelnen IV-Kurvenanalysen (einschließlich CITS-Daten)

Stories

Tレックスが何を食べていたのかを理解するためのマイクロウェア解析の使用

Dr. Mugino O. Kubo Ph.D at the University of Tokyo, Japan speaks about how her team are using three-dimensional microwear analysis and implementing new methods for studying the paleodiet of carnivorous dinosaurs, including the iconic Tyrannosaurus rex.

相関顕微鏡法により地質サンプルの包括的な解析が可能に

Application experts at Horiba Scientific and JEOL Europe recently highlighted a technique for precisely relocalizing specific areas of a sample for analysis using various techniques including Raman microscopy, scanning electron microscopy (SEM) and energy dispersive spectroscopy (EDS).

Correlative microscopy enables comprehensive analysis of geological samples

Multi-perspective characterization of tool performance

One of the critical applications of optical metrology in tooling is the dimensional characterization of cutting tools. Roughness measurements can also be used to predict how removed material will exit the tool in the aim of preventing clot formation or overheating. In addition, optical metrology can provide local measurements to help identify issues such as chipping or coating peeling, which indicate if a tool needs to be replaced or repaired. In this study, all these characterizations were managed using one, unique set-up: the Sensofar S neox Five Axis and SensoMap software powered by Mountains®.

Determining surface quality of cap layers in superconductors

Researchers at the Institut de Ciència de Materials de Barcelona characterizied surface texture of superconductor materials with the aim of improving their performance.

Using microwear analysis to understand what T-rex ate

Imaging fish scale topography in situ

Researchers at Purdue and Harvard universities explored fish scale surfaces in 3D using MountainsMap® software.

光電子分光法の測定を解析する

Scientists from the ISEN (Institut Supérieur de l’Électronique et du Numérique) in Lille, France, used photoelectron spectroscopy to investigate a new method for growing PbS nanoplatelets on InP surfaces.

SEMにおける3D再構成を用いてヒト卵巣をリバースエンジニアリングする

A team of researchers at the Catholic University of Louvain used topographic characterization and 3D reconstruction to reverse engineer the human ovary, bringing a plethora of new possibilities in biomedicine and biomimetics.

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Tレックスが何を食べていたのかを理解するためのマイクロウェア解析の使用

相関顕微鏡法により地質サンプルの包括的な解析が可能に

Correlative microscopy enables comprehensive analysis of geological samples

Multi-perspective characterization of tool performance

Determining surface quality of cap layers in superconductors

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